太陽(yáng)模擬器光源等級(jí)對(duì)測(cè)試的影響

　　太陽(yáng)模擬器光源等級(jí)對(duì)測(cè)試的影響：

　　光伏行業(yè)發(fā)展初期，晶體硅電池和組件達(dá)到批量化生產(chǎn)時(shí)，BA*的模擬器被行業(yè)普遍使用，但隨著行業(yè)的發(fā)展和科學(xué)技術(shù)的進(jìn)步，尤其是現(xiàn)在各種不同技術(shù)類型和不同規(guī)格的光伏電池/組件的產(chǎn)品的涌現(xiàn)，其B級(jí)光譜的限制性和對(duì)多標(biāo)準(zhǔn)板的要求以及測(cè)試誤差的過(guò)大，對(duì)AA*的模擬器成為行業(yè)的必然需求，即A（光譜等級(jí)）A（輻照不均勻度等級(jí)）A（輻照不穩(wěn)定性等級(jí)，通常指LTI）。

　　1.光譜對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響

　　不同基材的電池光譜響應(yīng)差別很大。實(shí)際上，即使基材相同的電池在生產(chǎn)過(guò)程中由于晶體生長(zhǎng)或其它條件和工藝等的差異，也會(huì)導(dǎo)致光譜響應(yīng)的差異.由于無(wú)法保證校準(zhǔn)設(shè)備時(shí)使用的標(biāo)準(zhǔn)電池和其它被測(cè)電池的一致性，因此如果要得到更為準(zhǔn)確的結(jié)果，就需要高等級(jí)光譜的太陽(yáng)模擬器。

　　2.光強(qiáng)均勻性對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響

　　晶體硅太陽(yáng)電池組件中單體電池之間焊接不良及同串單體電池IV特性不匹配等因素會(huì)導(dǎo)致輸出功率降低。在工業(yè)上，為了防止由以上原因造成的熱斑效應(yīng)和功率消耗，在組件制造時(shí)一般都會(huì)在每十幾片串聯(lián)的電池片兩端并上旁路二極管。這樣做雖可降低組件的熱斑效應(yīng)，但同時(shí)也可能會(huì)使組件的IV特性曲線出現(xiàn)畸變。造成熱斑效應(yīng)的原因有很多，其中兩個(gè)主要的原因是：一是電池組件本身工藝或品質(zhì)造成的單體電池IV特性不匹配，二是遮蓋等外界原因造成的組件受光不均勻。

　　因此，一個(gè)光強(qiáng)均勻性良好的太陽(yáng)模擬器，可以通過(guò)測(cè)試從一定程度上反映出太陽(yáng)電池組件的單體電池IV特性不匹配的問(wèn)題。模擬器的光均勻性還會(huì)影響測(cè)試結(jié)果的FF，如果模擬器的光均勻度不好，一般情況下，測(cè)試IV曲線的FF就會(huì)比實(shí)際值偏小。

　　3.輻照不穩(wěn)定度對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響

　　輻照穩(wěn)定度對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響是很容易理解的.，模擬器輻照不穩(wěn)定，就必然會(huì)造成測(cè)試結(jié)果不穩(wěn)定，輻照穩(wěn)定度保證了所測(cè)試的l-V特性是在同一條件下量測(cè)的，為數(shù)據(jù)的可參考性提供了前提。